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Product Category美國Trio-Tech 半導體高加速壓力測試系統(tǒng),高加速應力測試(HAST)結合了高溫、高濕度、高壓和時間,以測量元件的可靠性,無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速,在較短的時間內發(fā)現(xiàn)包裝密封,材料和接頭等缺陷。偏置高加速壓力測試(BHAST)利用與HAST測試相同的變量(高壓,高溫和時間),但增加了電壓偏差。BHAST測試
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